近日，我中心應(yīng)邀參加在上海舉辦的“亞洲光伏耐久研討會”。此次會議主題主要涵蓋太陽能行業(yè)環(huán)境耐久性研究及測試，材料性能研究，服役壽命測試及預估最新研究成果，最新光伏“qualification plus”測試方法及其對IEC標準的影響。

會議上，來自VDE、中山大學、弗朗霍夫太陽能系統(tǒng)研究所、韓國FITI測試研究所、美國保險商實驗室、國家可再生能源實驗室等全球各大知名研究所實驗室的專家分別作了對光伏組件耐久性方面的最新研究成果的交流和分享。國家光伏質(zhì)檢中心作為光伏行業(yè)具有重要影響力的檢學研一體的大型綜合檢測機構(gòu)也派出了技術(shù)專家參與了與此次交流學習活動。

各專家的最新研究報告具有很高的價值，中山大學太陽能研究所的董嫻女士展示了來自1982年Solarex生產(chǎn)的晶體硅組件、1987年BP solar生產(chǎn)的晶體硅組件、1996年Siemens Solar及2010年Kyocera生產(chǎn)的晶體硅組件在戶外運行多年的衰減率研究結(jié)果，研究發(fā)現(xiàn)光伏組件的壽命可以達到30年、甚至40年，多晶硅組件的總體衰減低于單晶硅組件，不能通過組件的外觀判斷組件衰減并且急需開發(fā)無損傷探測設(shè)備對組件進行現(xiàn)場分析測試。專家的研究報告將為我中心對于組件衰減及加速老化的測試研究提供了很好的參考。